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actas de congreso
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Test Conference, 2009. ITC 2009. International

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ISBNs: 978-1-4244-4868-5 (impreso) 978-1-4244-4867-8 (en línea)

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Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Symposium (ATS), 2010 19th IEEE Asian

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ISBNs: 978-1-4244-8841-4 (impreso)

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No detectada 2010 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  


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Test Symposium (ATS), 2011 20th Asian

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ISBNs: 978-1-4577-1984-4 (impreso)

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No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Symposium (ATS), 2012 IEEE 21st Asian

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ISBNs: 978-1-4673-4555-2 (impreso) 978-0-7695-4876-0 (en línea)

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No detectada 2012 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Symposium (ATS), 2013 22nd Asian

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No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Symposium (ATS), 2014 IEEE 23rd Asian

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No detectada 2014 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Symposium (ETS), 2010 15th IEEE European

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ISBNs: 978-1-4244-5834-9 (impreso) 978-1-4244-5833-2 (en línea)

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No detectada 2010 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Symposium (ETS), 2012 17th IEEE European

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ISBNs: 978-1-4673-0696-6 (impreso) 978-1-4673-0695-9 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2012 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Symposium (ETS), 2013 18th IEEE European

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ISBNs: 978-1-4673-6376-1 (impreso)

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No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías  


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Test Symposium (ETS), 2014 19th IEEE European

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Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales