Biblioteca Electrónica de Ciencia y Tecnología

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Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2013 20th IEEE International Symposium on the

ISBNs: 978-1-4799-1241-4 (impreso)

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Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2014 IEEE 21st International Symposium on the

ISBNs: 978-1-4799-3931-2 (impreso)

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Cobertura temática: Ingeniería y tecnología - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2004. IPFA 2004. Proceedings of the 11th International Symposium on the

ISBNs: 0-7803-8454-7 (impreso)

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Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2005. IPFA 2005. Proceedings of the 12th International Symposium on the

ISBNs: 0-7803-9301-5 (impreso)

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No detectada	2005	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería de los materiales

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Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2006. 13th International Symposium on the

ISBNs: 1-4244-0205-0 (impreso) 1-4244-0206-9 (en línea)

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No detectada	2006	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2007. IPFA 2007. 14th International Symposium on the

ISBNs: 978-1-4244-1014-9 (impreso)

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No detectada	2007	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2008. IPFA 2008. 15th International Symposium on the

ISBNs: 978-1-4244-2039-1 (impreso) 978-1-4244-2040-7 (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2008	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2009. IPFA 2009. 16th IEEE International Symposium on the

ISBNs: 978-1-4244-3911-9 (impreso) 978-1-4244-3912-6 (en línea)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2009	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

libros Acceso Abierto

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Physical Metallurgy of High Manganese Steels

978-3-03921-857-8 (en línea)

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Cobertura temática: Ingeniería de los materiales

libros

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Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM

ISBNs: 978-0-387-25800-3 (impreso) 978-0-387-26016-7 (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2005	SpringerLink

Cobertura temática: Ciencias químicas - Ingeniería de los materiales

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Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2013 20th IEEE International Symposium on the

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Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2014 IEEE 21st International Symposium on the

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Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2004. IPFA 2004. Proceedings of the 11th International Symposium on the

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Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2005. IPFA 2005. Proceedings of the 12th International Symposium on the

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Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2006. 13th International Symposium on the

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Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2007. IPFA 2007. 14th International Symposium on the

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Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2008. IPFA 2008. 15th International Symposium on the

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Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2009. IPFA 2009. 16th IEEE International Symposium on the

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Physical Metallurgy of High Manganese Steels

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Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM

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