Catálogo de publicaciones - actas de congreso

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Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2005. IPFA 2005. Proceedings of the 12th International Symposium on the

Resumen/Descripción – provisto por la editorial

No disponible.

Palabras clave – provistas por la editorial

Aerospace; Communication; Networking & Broadcasting; Components; Circuits; Devices & Systems; Computing & Processing (Hardware/Software); Engineered Materials; Dielectrics & Plasmas; Fields; Waves & Electromagnetics; General Topics for Engineers (Mat

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2005 IEEE Xplore

Información

Tipo de recurso:

actas de congreso

ISBN impreso

0-7803-9301-5

Editor responsable

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

País de edición

Estados Unidos

Fecha de publicación