Biblioteca Electrónica de Ciencia y Tecnología

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IEEE VLSI Test Symposium (VTS)

ISBNs: 978-1-61284-657-6 (impreso)

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No detectada	2011	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE VLSI Test Symposium (VTS)

ISBNs: 978-1-4673-1073-4 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2012	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE VLSI Test Symposium (VTS)

ISBNs: 978-1-4673-5542-1 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2013	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE VLSI Test Symposium (VTS)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2014	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería y tecnología - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería química - Ingeniería de los materiales - Ingenieria ambiental - Biotecnología médica

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IEEE VLSI Test Symposium (VTS)

ISBNs: 0-7695-2134-7 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2004	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE VLSI Test Symposium (VTS)

ISBNs: 0-7695-2314-5 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2005	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE VLSI Test Symposium (VTS)

ISBNs: 0-7695-2514-8 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2006	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE VLSI Test Symposium (VTS)

ISBNs: 0-7695-2812-0 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2007	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE VLSI Test Symposium (VTS)

ISBNs: 978-0-7695-3123-6 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2008	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE VLSI Test Symposium (VTS)

ISBNs: 978-0-7695-3598-2 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2009	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE VLSI Test Symposium (VTS)

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