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actas de congreso
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Electron Devices, 2005 Spanish Conference on

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ISBNs: 0-7803-8810-0 (impreso)

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No detectada 2005 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Electron Devices, 2007 Spanish Conference on

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ISBNs: 1-4244-0868-7 (impreso)

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No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Electron Devices, 2009. CDE 2009. Spanish Conference on

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ISBNs: 978-1-4244-2838-0 (impreso)

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No detectada 2009 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Electron Devices, Kansai, (IMFEDK), 2011 International Meeting for Future of

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ISBNs: 978-1-61284-145-8 (impreso) 978-1-61284-147-2 (en línea)

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No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


Electron Microscopy in Material Science

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978-0-12-780584-9 (en línea)

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Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales - Ingenieria ambiental  

Electron Microscopy in Material Science covers the proceedings of the International School of Electron Microscopy held in Erice, Itsaly, in 1970. The said conference is intended to the developments of electron optics and electron microscopy and its applications in material science.
The book is divided into four parts. Part I discusses the impact of electron microscopy in the science of materials. Part II covers topics such as electron optics and instrumentation; geometric electron optics and its problems; and special electron microscope specimen stages. Part III explains the theory of electron diffraction image contrast and then elaborates on related areas such as the application of electron diffraction and of electron microscopy to radiation; computing methods; and problems in electron microscopy. Part IV includes topics such as the transfer of image information in the electron microscope; phase contrast microscopy; and the magnetic phase contrast.
The text is recommended for electron microscopists who are interested in the application of their field in material science, as well as for experts in the field of material science and would like to know about the importance of electron microscopy.

Electron Microscopy of Plant Cells

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978-0-12-318880-9 (en línea)

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Cobertura temática: Ciencias biológicas - Ingeniería de los materiales - Ciencias agrícolas y veterinarias  

Electron Microscopy of Plant Cells serves as manual or reference of major modern techniques used to prepare plant material for transmission and scanning electron microscopy. There have been other books that generally discuss electron microscope methodology. This book focuses on problem areas encountered through the presence of tough cell walls and large central vacuole. It details preparative techniques for botanical specimens.
Each of the nine chapters of this book covers the basic principles, useful applications, and reliable procedures used on the method of electron microscopy. Other topics discussed in each chapter include the general preparation and straining of thin sections, quantitative morphological analysis, and enzyme cytochemistry. This book also explains the immunogold labelling, rapid-freezing methods, and ambient- and low-temperature scanning electron microscopy among others.
This book will be invaluable to general scientists, biologists, botanists, and students specializing in plant anatomy.

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Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2010 Proceedings 60th

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ISBNs: 978-1-4244-6410-4 (impreso) 978-1-4244-6411-1 (en línea)

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No detectada 2010 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2011 IEEE 61st

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ISBNs: 978-1-61284-497-8 (impreso) 978-1-61284-496-1 (en línea)

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No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2012 IEEE 62nd

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ISBNs: 978-1-4673-1966-9 (impreso) 978-1-4673-1964-5 (en línea)

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No detectada 2012 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Electronic Components and Technology Conference (ECTC), 2013 IEEE 63rd

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ISBNs: 978-1-4799-0233-0 (impreso)

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No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales