Catálogo de publicaciones - actas de congreso

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Proceedings of the 2008 workshop on Radiation effects and fault tolerance in nanometer technologies

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Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2008 ACM Digital Library

Información

Tipo de recurso:

actas de congreso

ISBN impreso

978-1-60558-092-0

Editor responsable

Association for Computing Machinery (ACM)

País de edición

Estados Unidos

Fecha de publicación

Tabla de contenidos

A new placement algorithm for the optimization of fault tolerant circuits on reconfigurable devices

Luca Sterpone; Niccolo Battezzati; Massimo Violante

Pp. No disponible

Yield improvement and power aware low cost memory chips

Costas Argyrides; Stephania Loizidou Himona; Dhiraj K. Pradhan

Pp. No disponible