Catálogo de publicaciones - actas de congreso

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Test Symposium (ATS), 2011 20th Asian

Resumen/Descripción – provisto por la editorial

No disponible.

Palabras clave – provistas por la editorial

Components; Circuits; Devices & Systems; Computing & Processing (Hardware/Software); General Topics for Engineers (Math; Science & Engineering)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2011 IEEE Xplore

Información

Tipo de recurso:

actas de congreso

ISBN impreso

978-1-4577-1984-4

Editor responsable

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

País de edición

Estados Unidos

Fecha de publicación