Catálogo de publicaciones - actas de congreso
IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
Resumen/Descripción – provisto por la editorial
No disponible.
Palabras clave – provistas por la editorial
Components; Circuits; Devices & Systems; General Topics for Engineers (Math; Science & Engineering)
Disponibilidad
| Institución detectada | Año de publicación | Navegá | Descargá | Solicitá |
|---|---|---|---|---|
| No detectada | 2007 | IEEE Xplore |
Información
Tipo de recurso:
actas de congreso
ISBN impreso
978-0-7695-2885-4
Editor responsable
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
País de edición
Estados Unidos
Fecha de publicación
2007
