Catálogo de publicaciones - libros

Compartir en
redes sociales


Integrated Circuit Test Engineering: Modern Techniques

Resumen/Descripción – provisto por la editorial

No disponible.

Palabras clave – provistas por la editorial

Hardware y Arquitectura de computadores; Ingeniería eléctrica y electrónica

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 SpringerLink

Información

Tipo de recurso:

libros

ISBN impreso

978-1-84628-023-8

ISBN electrónico

978-1-84628-173-0

Editor responsable

Springer Nature

País de edición

Reino Unido

Fecha de publicación