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Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
Resumen/Descripción – provisto por la editorial
No disponible.
Palabras clave – provistas por la editorial
Nano-tecnología; Ingeniería mecánica
Disponibilidad
| Institución detectada | Año de publicación | Navegá | Descargá | Solicitá |
|---|---|---|---|---|
| No detectada | 2007 | SpringerLink |
Información
Tipo de recurso:
libros
ISBN impreso
978-0-387-28667-9
ISBN electrónico
978-0-387-28668-6
Editor responsable
Springer Nature
País de edición
Reino Unido
Fecha de publicación
2007
