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Título de Acceso Abierto
Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen
Parte de: Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung
Resumen/Descripción – provisto por la editorial
No disponible.
Palabras clave – provistas por la editorial
imaging; retroreflection; curved surface; ellipsometry; bildgebend; Retroreflexion; gekrümmte Oberfläche; Ellipsometrie; metrology; Messtechnik
Disponibilidad
| Institución detectada | Año de publicación | Navegá | Descargá | Solicitá |
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| No requiere | Directory of Open access Books |
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Información
Tipo de recurso:
libros
País de edición
Alemania
Información sobre derechos de publicación
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