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Título de Acceso Abierto
Metrology
Resumen/Descripción – provisto por la editorial
No disponible.
Palabras clave – provistas por la editorial
traceability to si units of complex measurement systems; considerations on the fundamentals of measurement; cyberphysical systems; machine learning for metrology; metrology for sustainable manufacturing; measurement uncertainty in dynamic processes
Disponibilidad
| Institución detectada | Período | Navegá | Descargá | Solicitá |
|---|---|---|---|---|
| No requiere | desde ene. 2021 / hasta sep. 2024 | Directory of Open Access Journals |
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Información
Tipo de recurso:
revistas
ISSN electrónico
2673-8244
Idiomas de la publicación
- inglés
País de edición
Suiza
Información sobre licencias CC
