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Título de Acceso Abierto
Monitoreo y control estadístico de atributos en procesos con alta tasa de producción y bajo número de defectos: aplicación a un caso real de planta
Patricia Alejandra Carolina von Fürth Silvia Joekes
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Resumen/Descripción – provisto por el repositorio digital
Los procesos de alta calidad se basan en una baja tasa de productos no conformes. Tradicionalmente el monitoreo de los procesos se realiza a través de los gráficos tradicionales de Shewhart (3-sigma), basados en la aproximación normal. Pero este tipo de gráfico no es exacto cuando la tasa de defectos p es muy pequeña. En la presente tesis se realiza una comparación entre los gráficos tradicionales de Shewhart con otros tipos basados en la corrección de los límites de control y con otros basados en la suma acumulada de conformidades que se miden en partes por millón (ppm). Estos gráficos para procesos de alta calidad tienen la ventaja de ser más sensibles ante la tasa de defectos de baja.Palabras clave – provistas por el repositorio digital
QD Química; TALIM Tecnología de los Alimentos
Disponibilidad
| Institución detectada | Año de publicación | Navegá | Descargá | Solicitá |
|---|---|---|---|---|
| No requiere | 2013 | Producción Académica (SNRD) |
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Información
Tipo de recurso:
tesis
Idiomas de la publicación
- español castellano
País de edición
Argentina
Fecha de publicación
2013-03-01
Información sobre licencias CC
