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Scalable Uncertainty Management: First International Conference, SUM 2007, Washington,DC, USA, October 10-12, 2007. Proceedings

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ISBNs: 978-3-540-75407-7 (impreso) 978-3-540-75410-7 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 SpringerLink

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Economía y negocios - Lenguas y literatura  


Scale Space and PDE Methods in Computer Vision: 5th International Conference, Scale-Space 2005, Hofgeismar, Germany, April 7-9, 2005, Proceedings

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ISBNs: 978-3-540-25547-5 (impreso) 978-3-540-32012-8 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2005 SpringerLink

Cobertura temática: Ciencias de la computación e información - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  


Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale

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ISBNs: 978-0-387-28667-9 (impreso) 978-0-387-28668-6 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 SpringerLink

Cobertura temática: Nanotecnología - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Artes  


Scenarios: Models, Transformations and Tools: International Workshop, Dagstuhl Castle, Germany, September 7-12, 2003, Revised Selected Papers

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ISBNs: 978-3-540-26189-6 (impreso) 978-3-540-32032-6 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2005 SpringerLink

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  


actas de congreso
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Science and Information Conference (SAI), 2013

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería y tecnología - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
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Science and Information Conference (SAI), 2014

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ISBNs: 978-0-9893-1933-1 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2014 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería y tecnología - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
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Science and Innovation Policy, 2011 Atlanta Conference on

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ISBNs: 978-1-4577-1390-3 (impreso) 978-1-4577-1391-0 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería de los materiales - Biotecnología médica  


actas de congreso
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Science and Social Research (CSSR), 2010 International Conference on

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ISBNs: 978-1-4244-8987-9 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2010 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  


actas de congreso
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Science and Technology Conference (Modern Networking Technologies) (MoNeTeC), 2014 First International

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ISBNs: 978-1-4799-7593-8 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2014 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
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Science and Technology for Humanity (TIC-STH), 2009 IEEE Toronto International Conference

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ISBNs: 978-1-4244-3877-8 (impreso) 978-1-4244-3878-5 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2009 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería de los materiales - Biotecnología médica