Catálogo de publicaciones - actas de congreso

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Proceedings of the 2020 ACM/IEEE Workshop on Machine Learning for CAD

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2020	ACM Digital Library

Información

Tipo de recurso:

actas de congreso

ISBN impreso

978-1-4503-7519-1

Editor responsable

Association for Computing Machinery (ACM)

País de edición

Estados Unidos

Fecha de publicación

2020-11-16

Información sobre derechos de publicación

Cobertura temática

Ciencias de la computación e información

Tabla de contenidos

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doi: 10.1145/3380446.3430648

Towards NN-based Online Estimation of the Full-Chip Temperature and the Rate of Temperature Change

Martin Rapp; Omar Elfatairy; Marilyn Wolf; Jörg Henkel; Hussam Amrouch

Pp. No disponible

doi: 10.1145/3380446.3430642

Partial Sharing Neural Networks for Multi-Target Regression on Power and Performance of Embedded Memories

Felix Last; Ulf Schlichtmann

Pp. No disponible

doi: 10.1145/3380446.3430692

From Tuning to Learning

Ismail S. Bustany

Pp. No disponible

doi: 10.1145/3380446.3430623

HAT-DRL: Hotspot-Aware Task Mapping for Lifetime Improvement of Multicore System using Deep Reinforcement Learning

Jinwei Zhang; Sheriff Sadiqbatcha; Yuanqi Gao; Michael O'Dea; Nanpeng Yu; Sheldon X.-D. Tan

Pp. No disponible

doi: 10.1145/3380446.3430690

Accelerating Chip Design with Machine Learning

Brucek Khailany

Pp. No disponible

doi: 10.1145/3380446.3430620

Data-Driven Fast Electrostatics and TDDB Aging Analysis

Shaoyi Peng; Wentian Jin; Liang Chen; Sheldon X.-D. Tan

Pp. No disponible

doi: 10.1145/3436521

Session details: Plenary I

Paul Franzon

Pp. No disponible

doi: 10.1145/3380446.3430624

Can Wear-Aware Memory Allocation be Intelligent?

Christian Hakert; Kuan-Hsun Chen; Jian-Jia Chen

Pp. No disponible

doi: 10.1145/3380446.3430643

Explaining and Interpreting Machine Learning CAD Decisions: An IC Testing Case Study

Prashanth Krishnamurthy; Animesh Basak Chowdhury; Benjamin Tan; Farshad Khorrami; Ramesh Karri

Pp. No disponible

doi: 10.1145/3436529

Session details: Session 4: Intelligent Modeling

Hai Li (Helen) Li

Pp. No disponible