Catálogo de publicaciones - actas de congreso

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Proceedings of the 2020 ACM/IEEE Workshop on Machine Learning for CAD

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2020 ACM Digital Library

Información

Tipo de recurso:

actas de congreso

ISBN impreso

978-1-4503-7519-1

Editor responsable

Association for Computing Machinery (ACM)

País de edición

Estados Unidos

Fecha de publicación

Información sobre derechos de publicación

Copyright © ACM, Inc.

Tabla de contenidos

Using Machine Learning Clustering To Find Large Coverage Holes

Raviv Gal; Giora Simchoni; Avi Ziv

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Footprint Classification of Electric Components on Printed Circuit Boards

Yun-Jie Ni; Yan-Jhih Wang; Tsung-Yi Ho

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Machine Learning in EDA: Opportunities and Challenges

Elias Fallon

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DAVE: Deriving Automatically Verilog from English

Hammond Pearce; Benjamin Tan; Ramesh Karri

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R2AD: Randomization and Reconstructor-based Adversarial Defense on Deep Neural Network

Marzieh Ashrafiamiri; Sai Manoj Pudukotai Dinakarrao; Amir Hosein Afandizadeh Zargari; Minjun Seo; Fadi Kurdahi; Houman Homayoun

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An Enhanced Machine Learning Model for Adaptive Monte Carlo Yield Analysis

Richard Kimmel; Tong Li; David Winston

Pp. No disponible

CALT: Classification with Adaptive Labeling Thresholds for Analog Circuit Sizing

Zhengfeng Wu; Ioannis Savidis

Pp. No disponible

Data-driven CAD or Algorithm-Driven CAD: Competitors or Collaborators?

Rajeev Jain; Pankaj Kukkal

Pp. No disponible

Session details: Keynote Talk II

Ulf Schlichtmann

Pp. No disponible

Automatic compiler optimization on embedded software through k-means clustering

Michael Werner; Lorenzo Servadei; Robert Wille; Wolfgang Ecker

Pp. No disponible