Catálogo de publicaciones - actas de congreso
Proceedings of the 2020 ACM/IEEE Workshop on Machine Learning for CAD
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Disponibilidad
| Institución detectada | Año de publicación | Navegá | Descargá | Solicitá |
|---|---|---|---|---|
| No detectada | 2020 | ACM Digital Library |
Información
Tipo de recurso:
actas de congreso
ISBN impreso
978-1-4503-7519-1
Editor responsable
Association for Computing Machinery (ACM)
País de edición
Estados Unidos
Fecha de publicación
2020-11-16
Información sobre derechos de publicación
Copyright © ACM, Inc.
Cobertura temática
Tabla de contenidos
Using Machine Learning Clustering To Find Large Coverage Holes
Raviv Gal; Giora Simchoni; Avi Ziv
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Footprint Classification of Electric Components on Printed Circuit Boards
Yun-Jie Ni; Yan-Jhih Wang; Tsung-Yi Ho
Pp. No disponible
Machine Learning in EDA: Opportunities and Challenges
Elias Fallon
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DAVE: Deriving Automatically Verilog from English
Hammond Pearce; Benjamin Tan; Ramesh Karri
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R2AD: Randomization and Reconstructor-based Adversarial Defense on Deep Neural Network
Marzieh Ashrafiamiri; Sai Manoj Pudukotai Dinakarrao; Amir Hosein Afandizadeh Zargari; Minjun Seo; Fadi Kurdahi; Houman Homayoun
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An Enhanced Machine Learning Model for Adaptive Monte Carlo Yield Analysis
Richard Kimmel; Tong Li; David Winston
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CALT: Classification with Adaptive Labeling Thresholds for Analog Circuit Sizing
Zhengfeng Wu; Ioannis Savidis
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Data-driven CAD or Algorithm-Driven CAD: Competitors or Collaborators?
Rajeev Jain; Pankaj Kukkal
Pp. No disponible
Automatic compiler optimization on embedded software through k-means clustering
Michael Werner; Lorenzo Servadei; Robert Wille; Wolfgang Ecker
Pp. No disponible