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actas de congreso
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Test and Measurement, 2009. ICTM '09. International Conference on

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ISBNs: 978-1-4244-4699-5 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2009 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Conference (ITC), 2010 IEEE International

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ISBNs: 978-1-4244-7206-2 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2010 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Conference (ITC), 2011 IEEE International

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ISBNs: 978-1-4577-0153-5 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Conference (ITC), 2012 IEEE International

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ISBNs: 978-1-4673-1594-4 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2012 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Conference (ITC), 2013 IEEE International

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería de los materiales - Biotecnología médica  


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Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004. International

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ISBNs: 0-7803-8580-2 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2004 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Conference, 2005. Proceedings. ITC 2005. IEEE International

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ISBNs: 0-7803-9038-5 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2005 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Conference, 2006. ITC '06. IEEE International

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ISBNs: 1-4244-0292-1 (impreso) 1-4244-0292-1 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Conference, 2007. ITC 2007. IEEE International

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ISBNs: 978-1-4244-1127-6 (impreso) 978-1-4244-1128-3 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Conference, 2008. ITC 2008. IEEE International

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ISBNs: 978-1-4244-2402-3 (impreso) 978-1-4244-2403-0 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2008 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales