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Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques

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ISBNs: 978-3-540-26242-8 (impreso) 978-3-540-27453-7 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 SpringerLink

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ciencias químicas  


Applied Scanning Probe Methods III: Characterization

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ISBNs: 978-3-540-26909-0 (impreso) 978-3-540-26910-6 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 SpringerLink

Cobertura temática: Nanotecnología  


Applied Scanning Probe Methods IV: Industrial Applications

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ISBNs: 978-3-540-26912-0 (impreso) 978-3-540-26914-4 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 SpringerLink

Cobertura temática: Ciencias de la computación e información - Ciencias químicas - Nanotecnología  


Applied Scanning Probe Methods V: Scanning Probe Microscopy Techniques

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ISBNs: 978-3-540-37315-5 (impreso) 978-3-540-37316-2 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 SpringerLink

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ciencias químicas  


Applied Scanning Probe Methods VI: Characterization

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ISBNs: 978-3-540-37318-6 (impreso) 978-3-540-37319-3 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 SpringerLink

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ciencias químicas  


Applied Scanning Probe Methods VII: Biomimetics and Industrial Applications

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ISBNs: 978-3-540-37320-9 (impreso) 978-3-540-37321-6 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 SpringerLink

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ciencias químicas  


Applied Semi-Markov Processes

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Autores/as: Jacques Janssen ; Raimondo Manca

ISBNs: 978-0-387-29547-3 (impreso) 978-0-387-29548-0 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 SpringerLink

Cobertura temática: Matemáticas  


Applied Soft Computing Technologies: The Challenge of Complexity

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ISBNs: 978-3-540-31649-7 (impreso) 978-3-540-31662-6 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 SpringerLink

Cobertura temática: Matemáticas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  


Applied Statistics Using SPSS, STATISTICA, MATLAB and R

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ISBNs: 978-3-540-71971-7 (impreso) 978-3-540-71972-4 (en línea)

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No detectada 2007 SpringerLink

Cobertura temática: Matemáticas  


Applied Stochastic Control of Jump Diffusions

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Autores/as: Bernt Øksendal ; Agnès Sulem

ISBNs: 978-3-540-69825-8 (impreso) 978-3-540-69826-5 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 SpringerLink

Cobertura temática: Matemáticas