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Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2013 IEEE International Conference on

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ISBNs: 978-1-4673-4845-4 (impreso) 978-1-4673-4847-8 (en línea)

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No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2014 International Conference on

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ISBNs: 978-1-4799-2193-5 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2014 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronic Test Structures, 2004. Proceedings. ICMTS '04. The International Conference on

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ISBNs: 0-7803-8262-5 (impreso)

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No detectada 2004 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronic Test Structures, 2005. ICMTS 2005. Proceedings of the 2005 International Conference on

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ISBNs: 0-7803-8855-0 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2005 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronic Test Structures, 2006. ICMTS 2006. IEEE International Conference on

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ISBNs: 1-4244-0167-4 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería y tecnología - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería de los materiales - Biotecnología médica  

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Microelectronic Test Structures, 2007. ICMTS '07. IEEE International Conference on

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ISBNs: 1-4244-0781-8 (impreso) 1-4244-0781-8 (en línea)

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No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronic Test Structures, 2008. ICMTS 2008. IEEE International Conference on

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ISBNs: 978-1-4244-1800-8 (impreso) 978-1-4244-1801-5 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2008 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronic Test Structures, 2009. ICMTS 2009. IEEE International Conference on

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ISBNs: 978-1-4244-4259-1 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2009 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronics (Austrochip), 22nd Austrian Workshop on

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ISBNs: 978-1-4799-7243-2 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2014 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Microelectronics (ICM), 2009 International Conference on

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ISBNs: 978-1-4244-5814-1 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2009 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales