Catálogo de publicaciones - actas de congreso

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Microelectronic Test Structures, 2005. ICMTS 2005. Proceedings of the 2005 International Conference on

Resumen/Descripción – provisto por la editorial

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Palabras clave – provistas por la editorial

Components; Circuits; Devices & Systems

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2005 IEEE Xplore

Información

Tipo de recurso:

actas de congreso

ISBN impreso

0-7803-8855-0

Editor responsable

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

País de edición

Estados Unidos

Fecha de publicación