Biblioteca Electrónica de Ciencia y Tecnología

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IEEE International Workshop on Applied Measurements for Power Systems (AMPS)

ISBNs: 978-1-4673-5571-1 (impreso)

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No detectada	2013	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Applied Measurements for Power Systems (AMPS)

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No detectada	2014	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Biomedical Circuits and Systems

ISBNs: 0-7803-8665-5 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2004	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales - Biotecnología médica

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IEEE International Workshop on Computational Advances in Multi-Sensor Adaptive Processing (CAMSAP)

ISBNs: 978-1-4577-2104-5 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2011	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Computational Advances in Multi-Sensor Adaptive Processing (CAMSAP)

ISBNs: 0-7803-9322-8 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2005	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Computational Advances in Multi-Sensor Adaptive Processing (CAMSAP)

ISBNs: 978-1-4244-1713-1 (impreso) 978-1-4244-1714-8 (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2007	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Computer Aided Modeling and Design of Communication Links and Networks (CAMAD)

ISBNs: 978-1-4673-3123-4 (impreso) 978-1-4673-3124-1 (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2012	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing (DBT)

ISBNs: 0-7803-8950-6 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2004	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing (DBT)

ISBNs: 1-4244-0034-1 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2005	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 978-1-4577-1713-0 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2011	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Applied Measurements for Power Systems (AMPS)

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IEEE International Workshop on Computational Advances in Multi-Sensor Adaptive Processing (CAMSAP)

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IEEE International Workshop on Computational Advances in Multi-Sensor Adaptive Processing (CAMSAP)

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IEEE International Workshop on Computer Aided Modeling and Design of Communication Links and Networks (CAMAD)

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IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing (DBT)

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

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