Biblioteca Electrónica de Ciencia y Tecnología

Límite

Ordenar

Mostrando 10 de 10.146 registro(s)

Filtros temática quitar todos

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

2016 IEEE 21st International Mixed-Signal Testing Workshop (IMSTW)

ISBNs: 978-1-5090-2752-1 (impreso) 978-1-5090-2751-4 (en línea)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2016	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales - Biotecnología médica

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

2016 IEEE 22nd International Symposium for Design and Technology in Electronic Packaging (SIITME)

ISBNs: 978-1-5090-4446-7 (impreso) 978-1-5090-4445-0 (en línea)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2016	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería y tecnología - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

2016 IEEE 22nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)

ISBNs: 978-1-5090-1508-5 (impreso) 978-1-5090-1507-8 (en línea)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2016	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

2016 IEEE 23nd Symposium on Computer Arithmetic (ARITH)

ISBNs: 978-1-5090-1617-4 (impreso) 978-1-5090-1616-7 (en línea)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2016	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

2016 IEEE 23rd International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)

ISBNs: 978-1-4673-8260-1 (impreso) 978-1-4673-8259-5 (en línea)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2016	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS)

ISBNs: 978-1-5090-3810-7 (impreso) 978-1-5090-3809-1 (en línea)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2016	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

2016 IEEE 25th Conference on Electrical Performance Of Electronic Packaging And Systems (EPEPS)

ISBNs: 978-1-5090-6111-2 (impreso) 978-1-5090-6110-5 (en línea)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2016	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

2016 IEEE 25th International Symposium on Industrial Electronics (ISIE)

ISBNs: 978-1-5090-0874-2 (impreso) 978-1-5090-0873-5 (en línea)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2016	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales - Biotecnología médica

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

2016 IEEE 25th North Atlantic Test Workshop (NATW)

ISBNs: 978-1-4673-8950-1 (impreso) 978-1-4673-8949-5 (en línea)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2016	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

2016 IEEE 27th International Conference on Application-specific Systems, Architectures and Processors (ASAP)

ISBNs: 978-1-5090-1504-7 (impreso) 978-1-5090-1503-0 (en línea)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2016	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

‹
1
2
...
104
105
106
107
108
109
110
...
1014
1015
›

Catálogo de publicaciones

Navegación

Tipo

Acceso

Plataformas

Temática

2016 IEEE 21st International Mixed-Signal Testing Workshop (IMSTW)

Disponibilidad

2016 IEEE 22nd International Symposium for Design and Technology in Electronic Packaging (SIITME)

Disponibilidad

2016 IEEE 22nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)

Disponibilidad

2016 IEEE 23nd Symposium on Computer Arithmetic (ARITH)

Disponibilidad

2016 IEEE 23rd International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)

Disponibilidad

2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS)

Disponibilidad

2016 IEEE 25th Conference on Electrical Performance Of Electronic Packaging And Systems (EPEPS)

Disponibilidad

2016 IEEE 25th International Symposium on Industrial Electronics (ISIE)

Disponibilidad

2016 IEEE 25th North Atlantic Test Workshop (NATW)

Disponibilidad

2016 IEEE 27th International Conference on Application-specific Systems, Architectures and Processors (ASAP)

Disponibilidad