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IEEE International Conference on Computational Intelligence for Measurement Systems and Applications (CIMSA)

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ISBNs: 0-7803-8341-9 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2004 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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IEEE International Conference on Computational Intelligence for Measurement Systems and Applications (CIMSA)

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ISBNs: 0-7803-9026-1 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2005 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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IEEE International Conference on Computational Intelligence for Measurement Systems and Applications (CIMSA)

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ISBNs: 978-1-4244-0824-5 (impreso) 978-1-4244-0824-5 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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IEEE International Conference on Computational Intelligence for Measurement Systems and Applications (CIMSA)

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ISBNs: 978-1-4244-2305-7 (impreso) 978-1-4244-2306-4 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2008 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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IEEE International Conference on Computational Intelligence for Measurement Systems and Applications (CIMSA)

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ISBNs: 978-1-4244-3819-8 (impreso) 978-1-4244-3820-4 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2009 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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IEEE International Conference on Computational Intelligence for Measurement Systems and Applications (CIMSA)

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ISBNs: 1-4244-0244-1 (impreso) 1-4244-0245-X (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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IEEE International Conference on Computational Photography (ICCP)

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ISBNs: 978-1-4244-4534-9 (impreso) 978-1-4244-4533-2 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2009 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  


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IEEE International Conference on Computational Photography (ICCP)

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ISBNs: 978-1-4244-7022-8 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2010 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  


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IEEE International Conference on Computational Photography (ICCP)

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ISBNs: 978-1-61284-707-8 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  


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IEEE International Conference on Computational Photography (ICCP)

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ISBNs: 978-1-4673-1660-6 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2012 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería de los materiales