Catálogo de publicaciones

Compartir en
redes sociales

Navegación

Tipo

Acceso

Plataformas

Mostrar más

Temática

Mostrando 10 de 13.895 registro(s)

Filtros temática quitar todos
libros
Agregar a Mi catálogo

Developing the Next Generation of Cyberinfrastructure Faculty for Computational and Data-enabled Science and Engineering

Más información

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2012 ACM Digital Library

Cobertura temática: Ciencias de la computación e información - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

libros Acceso Abierto
Agregar a Mi catálogo

Development and Implementation of RFID Technology

Más información

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No requiere Directory of Open access Books acceso abierto

Cobertura temática: Ingeniería y tecnología - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ciencias sociales  

libros Acceso Abierto
Agregar a Mi catálogo

Development and Integration of Microgrids

Más información

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No requiere Directory of Open access Books acceso abierto

Cobertura temática: Ciencias de la tierra y ciencias ambientales relacionadas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

revistas Acceso Abierto
Agregar a Mi catálogo

Development Engineering: The Journal of Engineering in Economic Development

Más información

ISSNs 2352-7285 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Período Navegá Descargá Solicitá
No requiere desde jun. 2016 / hasta nov. 2024 ScienceDirect acceso abierto

Cobertura temática: Ingeniería y tecnología - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Psicología y ciencias cognitivas  

libros Acceso Abierto
Agregar a Mi catálogo

Development of high-temperature superconductor cables for high direct current applications

Más información

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No requiere Directory of Open access Books acceso abierto

Cobertura temática: Ingeniería y tecnología - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

libros Acceso Abierto
Agregar a Mi catálogo

Development of NbN based Kinetic Inductance Detectors on sapphire and diamond substrates for fusion plasma polarimetric diagnostics

Más información

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No requiere Directory of Open access Books acceso abierto

Cobertura temática: Ingeniería y tecnología - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

libros Acceso Abierto
Agregar a Mi catálogo

Development of novel ultrasound techniques for imaging and elastography. From simulation to real-time implementation

Más información

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No requiere Directory of Open access Books acceso abierto

Cobertura temática: Ingeniería y tecnología - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ciencias sociales  

libros
Agregar a Mi catálogo

Diagnosis and Fault-Tolerant Control

Más información

ISBNs: 978-3-540-35652-3 (impreso) 978-3-540-35653-0 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 SpringerLink

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería química  

tesis Acceso Abierto
Agregar a Mi catálogo

Diagnóstico de averías en bobinados de estátor de las máquinas eléctricas rotativas

Más información
Autores/as: Manuel Armando Mazzoletti ; Guillermo Rubén Bossio ; Cristian Hernan de Angelo

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No requiere 2017 CONICET Digital (SNRD) acceso abierto

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

En esta Tesis se proponen estrategias para la detección y el diagnóstico de Cortocircuitos Entre Espiras (CCEE) en bobinados de estátor de las Máquinas Síncronas de Imanes Permanentes (MSIP). La detección de un CCEE en su estado incipiente es fundamental con el fin de reducir la probabilidad de ocurrencia de fallas de mayor gravedad, evitar las paradas no programadas, disminuir los daños y perjuicios económicos y minimizar los riesgos de accidentes.Para analizar los efectos que ocasiona un CCEE en la MSIP se desarrollan dos modelos dinámicos que incluyen la avería en cualquiera de los bobinados de fase. Estos modelos son validados mediante simulación y resultados experimentales.Basándose en estos nuevos modelos analíticos, y a partir de la información contenida en las corrientes y/o tensiones medidas sobre los terminales de la MSIP, se proponen dos estrategias de detección y diagnóstico con enfoques diferentes. Una de ellas se implementa usando modelos de procesos y la otra a partir de modelos de señal.La estrategia de diagnóstico basada en modelos de procesos utiliza un observador de estados y las mediciones de las señales de tensión y de corriente. El residuo para la detección de averías se obtiene de la diferencia entre las corrientes medidas y las estimadas. Este residuo se separa luego en componentes de secuencia con el objetivo de hacerlo menos sensible a otras perturbaciones y al error de los parámetros del observador.La estrategia de diagnóstico basada en modelos de señal utiliza las tensiones de fase y la tensión medida sobre el punto medio de una fase. En este caso la diferencia entre las tensiones de cada mitad del bobinado se utiliza como residuo para la detección de averías. A diferencia de las propuestas basadas en las señales de corriente, el procesamiento de la tensión de punto medio permite detectar un CCEE incipiente incluso frente a desequilibrios de la tensión de alimentación, cargas asimétricas u otras perturbaciones.Las propuestas presentadas en esta Tesis permiten detectar los CCEE con la MSIP en línea y en condiciones de funcionamiento tanto estacionarias como transitorias y son poco sensibles a otras perturbaciones reduciendo la posibilidad de falsos diagnósticos. Las mismas son validadas tanto por simulación como de manera experimental mediante prototipos de laboratorio.
libros
Agregar a Mi catálogo

Diagrammatic Representation and Inference: 4th International Conference, Diagrams 2006, Stanford, CA, USA, June 28-30, 2006, Proceedings

Más información

ISBNs: 978-3-540-35623-3 (impreso) 978-3-540-35624-0 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 SpringerLink

Cobertura temática: Ciencias de la computación e información - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática