Catálogo de publicaciones - actas de congreso
Test Symposium (ATS), 2013 22nd Asian
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Palabras clave – provistas por la editorial
Components; Circuits; Devices & Systems; Computing & Processing (Hardware/Software)
Disponibilidad
| Institución detectada | Año de publicación | Navegá | Descargá | Solicitá |
|---|---|---|---|---|
| No detectada | 2013 | IEEE Xplore |
Información
Tipo de recurso:
actas de congreso
Editor responsable
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
País de edición
Estados Unidos
Fecha de publicación
2013
