Catálogo de publicaciones - actas de congreso
Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2014 IEEE 21st International Symposium on the
Resumen/Descripción – provisto por la editorial
No disponible.
Palabras clave – provistas por la editorial
Components; Circuits; Devices & Systems; Engineering Profession; General Topics for Engineers (Math; Science & Engineering)
Disponibilidad
Institución detectada | Año de publicación | Navegá | Descargá | Solicitá |
---|---|---|---|---|
No detectada | 2014 | IEEE Xplore |
Información
Tipo de recurso:
actas de congreso
ISBN impreso
978-1-4799-3931-2
Editor responsable
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
País de edición
Estados Unidos
Fecha de publicación
2014