Catálogo de publicaciones - actas de congreso
Asian Test Symposium (ATS)
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Components; Circuits; Devices & Systems
Disponibilidad
| Institución detectada | Año de publicación | Navegá | Descargá | Solicitá |
|---|---|---|---|---|
| No detectada | 2007 | IEEE Xplore |
Información
Tipo de recurso:
actas de congreso
ISBN impreso
978-0-7695-2890-8
Editor responsable
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
País de edición
Estados Unidos
Fecha de publicación
2007
