Catálogo de publicaciones - libros
Título de Acceso Abierto
Micro Non-destructive Testing and Evaluation
Resumen/Descripción – provisto por la editorial
No disponible.
Palabras clave – provistas por la editorial
micro-scale; X-ray imaging; characterization; metrology; components; micro-parts; quality; eddy currents
Disponibilidad
| Institución detectada | Año de publicación | Navegá | Descargá | Solicitá |
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| No requiere | Directory of Open access Books |
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Información
Tipo de recurso:
libros
País de edición
Suiza