Biblioteca Electrónica de Ciencia y Tecnología

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IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC)

ISBNs: 1-4244-0293-X (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2006	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC)

ISBNs: 1-4244-1349-4 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2007	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC)

ISBNs: 978-1-4244-1699-8 (impreso) 978-1-4244-1698-1 (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2008	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Electromagnetic Ecology

ISBNs: 0-7803-9374-0 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2005	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Symposium on the Applications of Ferroelectric and Workshop on the Piezoresponse Force Microscopy (ISAF/PFM)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2013	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería de los materiales

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IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT)

ISBNs: 978-1-4244-8500-0 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2011	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2014	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT)

ISBNs: 0-7803-9060-1 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2005	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT)

ISBNs: 1-4244-0179-8 (impreso) 1-4244-0180-1 (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2006	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT)

ISBNs: 1-4244-0583-1 (impreso) 1-4244-0583-1 (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2007	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC)

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IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC)

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IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC)

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IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Electromagnetic Ecology

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IEEE International Symposium on the Applications of Ferroelectric and Workshop on the Piezoresponse Force Microscopy (ISAF/PFM)

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IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT)

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IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT)

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IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT)

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IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT)

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IEEE International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT)

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