Catálogo de publicaciones

Compartir en
redes sociales


Navegación

Tipo

Acceso

Plataformas

Temática

Mostrando 10 de 14.427 registro(s)

Filtros temática quitar todos

Reliability Engineering: Theory and Practice

Más información

ISBNs: 978-3-540-49388-4 (impreso) 978-3-540-49390-7 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 SpringerLink

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  


Reliability Engineering and Systems Safety

Más información

ISSNs 0951-8320 (impreso) 1879-0836 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Período Navegá Descargá Solicitá
No detectada desde ene. 1988 / hasta dic. 2023 ScienceDirect

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

Reliability of Compound Semiconductors Digest (ROCS), 2009

Más información

ISBNs: 978-0-7908-0124-7 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2009 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


Reliability of Large and Complex Systems

Más información

978-0-08-099949-4 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2014 ScienceDirect

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ciencias de la salud - Otras ciencias sociales  

Reliability of Large and Complex Systems, previously titled Reliability of Large Systems, is an innovative guide to the current state and reliability of large and complex systems.

In addition to revised and updated content on the complexity and safety of large and complex mechanisms, this new edition looks at the reliability of nanosystems, a key research topic in nanotechnology science. The author discusses the importance of safety investigation of critical infrastructures that have aged or have been exposed to varying operational conditions. This reference provides an asymptotic approach to reliability; its methodology, whilst largely mathematical, is designed to help the reader understand and construct general models of large and systems in a wide range of engineering fields.

  • A complete and innovative guide to the reliability of large and complex systems
  • Provides the reader with a strong foundational knowledge of safety investigation into critical infrastructures; the main research area in the world of safety science
  • Explains how to construct large, reliable and safe systems in variable operation conditions

actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

Reliability of Transmission and Distribution Networks (RTDN 2011), IET Conference on

Más información

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería y tecnología - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales - Biotecnología médica  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

Reliability Physics Symposium (IRPS), 2010 IEEE International

Más información

ISBNs: 978-1-4244-5430-3 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2010 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

Reliability Physics Symposium (IRPS), 2011 IEEE International

Más información

ISBNs: 978-1-4244-9113-1 (impreso) 978-1-4244-9111-7 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

Reliability Physics Symposium (IRPS), 2013 IEEE International

Más información

ISBNs: 978-1-4799-0112-8 (impreso) 978-1-4799-0111-1 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales - Ingenieria ambiental  


Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models

Más información

978-0-12-800747-1 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2014 ScienceDirect

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ciencia veterinaria - Otras ciencias sociales  

This work will educate chip and system designers on a method for accurately predicting circuit and system reliability in order to estimate failures that will occur in the field as a function of operating conditions at the chip level. This book will combine the knowledge taught in many reliability publications and illustrate how to use the knowledge presented by the semiconductor manufacturing companies in combination with the HTOL end-of-life testing that is currently performed by the chip suppliers as part of their standard qualification procedure and make accurate reliability predictions. This book will allow chip designers to predict FIT and DPPM values as a function of operating conditions and chip temperature so that users ultimately will have control of reliability in their design so the reliability and performance will be considered concurrently with their design.
  • The ability to include reliability calculations and test results in their product design
  • The ability to use reliability data provided to them by their suppliers to make meaningful reliability predictions
  • Have accurate failure rate calculations for calculating warrantee period replacement costs

actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

Reliability Science for Advanced Materials and Devices (RSAMD), 2013 IEEE Conference on

Más información

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales