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Cinética de cristalización de aleaciones amorfas base Te y base Mg
Marcelo Raúl Fontana Hugo Sirkin
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Resumen/Descripción – provisto por el repositorio digital
En este trabajo, se estudió la cinética de cristalización de aleaciones amorfas binarias Ga-X (X = Te, Mg) y temarias Ga-X-Y (Y = Sn, Fe) en la zona de composiciones rica en X. Los materiales fueron caracterizados por difracción de rayos X, espectroscopía Mössbauer y calorimetría diferencial de barrido (DSC). Los sistemas binarios Ga-X presentan un pequeño rango de amortización centrado en 20 % atómico de Ga. Al agregar un tercer elemento Y (hasta un 10 % atómico) a los sistemas binarios se observan comportamientos disímiles en los rangos de amorfización temarios. Estos pueden ser explicados por la existencia de asociaciones Fuertes en el liquido que son retenidas en el enfriado rapido. Teniendo en cuenta las caracteristicas detectadas en la cinética de cristalización, los amorfos pueden dividirse en dos grupos: los de composición binaría (cercana a Ga20X80) y los de composición ternaria. Los amorfos ternarios son más estables y los productos de cristalización son diferentes a los de composición binaria. Se realizó un estudio detallado de la cinética de cristalización de la aleación amorfa de composición Ga20Te80. Se detectaron la existencia de tiempos de inducción y de mecanismos de cristalización compleja. La cristalización de los amorfos temarios base Te puede ser modelada suponiendo sólo modificaciones en la viscosidad con respecto al amorfo de composición Gaonego. En este trabajo se proponen elaboraciones originales que pueden ser aplicadas en general: se separa la señal correspondiente a una cristalización de una de cambio de capacidad calorifica en un barrido de DSC, se diseño un algoritmo que permite la construcción empírica de diagramas de transformación, se cuantifican los errores experimentales en calorimetría, se propone un modelo de cristalización compleja que explica la cinética de una cristalización primaria, se construyen los diagramas de transformación a partir de un modelo de cristalización.Palabras clave – provistas por el repositorio digital
AMORFOS; CINÉTICA DE CRISTALIZACIÓN; RAYOS X; ESPECTROSCOPÍA MOSSBAUER; CALORIMETRÍA DIFERENCIAL DE BARRIDO; ALEACIONES Ga20Te80; ALEACIONES GaTe; ALEACIONES GaTeSn; ALEACIONES GaTeFe; ALEACIONES MgGa; ALEACIONES MgGaSn; AMORPHOUS; CRYSTALLIZATION KINETICS; X-RAY; MOSSBAUER SPECTROSCOPY; DIFFERENTIAL SCANNING CALORIMETRIC; ALLOYS Ga20Te80; ALLOYS GaTe; ALLOYS GaTeSn; ALLOYS GaTeFe; ALLOYS MgGa; ALLOYS MgGaSn
Disponibilidad
| Institución detectada | Año de publicación | Navegá | Descargá | Solicitá |
|---|---|---|---|---|
| No requiere | 1998 | Biblioteca Digital (FCEN-UBA) (SNRD) |
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Información
Tipo de recurso:
tesis
Idiomas de la publicación
- español castellano
País de edición
Argentina
Fecha de publicación
1998
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