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IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
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Disponibilidad
| Institución detectada | Período | Navegá | Descargá | Solicitá |
|---|---|---|---|---|
| No detectada | desde ene. 2004 / hasta dic. 2020 | IEEE Xplore |
Información
Tipo de recurso:
revistas
ISSN impreso
0018-9456
ISSN electrónico
1557-9662
País de edición
Estados Unidos
Fecha de publicación
1963-
Cobertura temática
Tabla de contenidos
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Density Comparison of Isotopically Purified Silicon Single Crystals by the Pressure-of-Flotation Method
Atsushi Waseda; Kenichi Fujii
Pp. 2539-2543
Chaotic Encryption Applied to Optical Ethernet in Industrial Control Systems
Adrian Perez-Resa
; Miguel Garcia-Bosque; Carlos Sanchez-Azqueta; Santiago Celma
Palabras clave: Electrical and Electronic Engineering; Instrumentation.
Pp. 4876-4886