Catálogo de publicaciones - actas de congreso
Reliability of Compound Semiconductors Digest (ROCS), 2009
Resumen/Descripción – provisto por la editorial
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Palabras clave – provistas por la editorial
Components; Circuits; Devices & Systems; Engineered Materials; Dielectrics & Plasmas
Disponibilidad
| Institución detectada | Año de publicación | Navegá | Descargá | Solicitá |
|---|---|---|---|---|
| No detectada | 2009 | IEEE Xplore |
Información
Tipo de recurso:
actas de congreso
ISBN impreso
978-0-7908-0124-7
Editor responsable
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
País de edición
Estados Unidos
Fecha de publicación
2009
