Catálogo de publicaciones - actas de congreso
Microprocessor Test and Verification (MTV'04), Fifth International Workshop on
Resumen/Descripción – provisto por la editorial
No disponible.
Palabras clave – provistas por la editorial
Components; Circuits; Devices & Systems; Engineered Materials; Dielectrics & Plasmas; Fields; Waves & Electromagnetics; Photonics & Electro-Optics; Signal Processing & Analysis
Disponibilidad
| Institución detectada | Año de publicación | Navegá | Descargá | Solicitá |
|---|---|---|---|---|
| No detectada | 2004 | IEEE Xplore |
Información
Tipo de recurso:
actas de congreso
ISBN impreso
0-7695-2320-X
Editor responsable
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
País de edición
Estados Unidos
Fecha de publicación
2004
