Catálogo de publicaciones - actas de congreso

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Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2011 IEEE International Conference on

Resumen/Descripción – provisto por la editorial

No disponible.

Palabras clave – provistas por la editorial

Communication; Networking & Broadcasting; Components; Circuits; Devices & Systems; Computing & Processing (Hardware/Software); Engineered Materials; Dielectrics & Plasmas; Fields; Waves & Electromagnetics

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2011 IEEE Xplore

Información

Tipo de recurso:

actas de congreso

ISBN impreso

978-1-4244-8526-0

ISBN electrónico

978-1-4244-8528-4

Editor responsable

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

País de edición

Estados Unidos

Fecha de publicación