Catálogo de publicaciones - actas de congreso

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Asian Test Symposium (ATS)

Resumen/Descripción – provisto por la editorial

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Palabras clave – provistas por la editorial

Components; Circuits; Devices & Systems

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2009 IEEE Xplore

Información

Tipo de recurso:

actas de congreso

ISBN impreso

978-0-7695-3864-8

Editor responsable

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

País de edición

Estados Unidos

Fecha de publicación