Catálogo de publicaciones - actas de congreso
International Symp Piezoresponse Force Microscopy and Nanoscale Phenomena in Applications of Ferroelectrics held jointly with 2012 European Conference on the Applications of Polar Dielectrics
Resumen/Descripción – provisto por la editorial
No disponible.
Palabras clave – provistas por la editorial
Components; Circuits; Devices & Systems; Fields; Waves & Electromagnetics; Photonics & Electro-Optics
Disponibilidad
| Institución detectada | Año de publicación | Navegá | Descargá | Solicitá |
|---|---|---|---|---|
| No detectada | 2012 | IEEE Xplore |
Información
Tipo de recurso:
actas de congreso
ISBN impreso
978-1-4673-2668-1
Editor responsable
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
País de edición
Estados Unidos
Fecha de publicación
2012
