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Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
Resumen/Descripción – provisto por la editorial
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Palabras clave – provistas por la editorial
Ciencias Físicas; Física nuclear; Nano-tecnología; Ingeniería de los materiales
Disponibilidad
| Institución detectada | Año de publicación | Navegá | Descargá | Solicitá |
|---|---|---|---|---|
| No detectada | 2006 | SpringerLink |
Información
Tipo de recurso:
libros
ISBN impreso
978-0-387-40090-7
ISBN electrónico
978-0-387-37231-0
Editor responsable
Springer Nature
País de edición
Reino Unido
Fecha de publicación
2006
