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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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Palabras clave – provistas por la editorial
Ingeniería eléctrica y electrónica
Disponibilidad
| Institución detectada | Año de publicación | Navegá | Descargá | Solicitá |
|---|---|---|---|---|
| No detectada | 2007 | SpringerLink |
Información
Tipo de recurso:
libros
ISBN impreso
978-0-387-46546-3
ISBN electrónico
978-0-387-46547-0
Editor responsable
Springer Nature
País de edición
Reino Unido
Fecha de publicación
2007
