Catálogo de publicaciones - actas de congreso
2017 IEEE International Workshop on Metrology for AeroSpace (MetroAeroSpace)
Resumen/Descripción – provisto por la editorial
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Palabras clave – provistas por la editorial
Aerospace; Components; Circuits; Devices and Systems; Computing and Processing; Signal Processing and Analysis
Disponibilidad
| Institución detectada | Año de publicación | Navegá | Descargá | Solicitá |
|---|---|---|---|---|
| No detectada | 2017 | IEEE Xplore |
Información
Tipo de recurso:
actas de congreso
ISBN impreso
978-1-5090-4235-7
ISBN electrónico
978-1-5090-4234-0
Editor responsable
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
País de edición
Estados Unidos
Fecha de publicación
2017
