Catálogo de publicaciones - actas de congreso

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2016 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT)

Resumen/Descripción – provisto por la editorial

No disponible.

Palabras clave – provistas por la editorial

Components; Circuits; Devices and Systems; Computing and Processing; Signal Processing and Analysis

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2016 IEEE Xplore

Información

Tipo de recurso:

actas de congreso

ISBN impreso

978-1-4673-9499-4

ISBN electrónico

978-1-4673-9498-7

Editor responsable

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

País de edición

Estados Unidos

Fecha de publicación