Catálogo de publicaciones - actas de congreso
2016 IEEE/ACM 1st International Workshop on Metamorphic Testing (MET)
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Computing and Processing
Disponibilidad
| Institución detectada | Año de publicación | Navegá | Descargá | Solicitá |
|---|---|---|---|---|
| No detectada | 2016 | IEEE Xplore |
Información
Tipo de recurso:
actas de congreso
ISBN impreso
978-1-5090-0130-9
ISBN electrónico
978-1-4503-4163-9
Editor responsable
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
País de edición
Estados Unidos
Fecha de publicación
2016
