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Proceedings of the IEEE International Workshop on Advanced Methods for Uncertainty Estimation in Measurement (AMUEM)

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ISBNs: 1-4244-0249-2 (impreso)

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No detectada 2006 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías  


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Proceedings of the IEEE International Workshop on Advanced Methods for Uncertainty Estimation in Measurement (AMUEM)

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ISBNs: 978-1-4244-0933-4 (impreso) 978-1-4244-0933-4 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías  


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Proceedings of the IEEE International Workshop on Advanced Methods for Uncertainty Estimation in Measurement (AMUEM)

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ISBNs: 978-1-4244-2236-4 (impreso) 978-1-4244-2237-1 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2008 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías  


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Proceedings of the IEEE International Workshop on Advanced Methods for Uncertainty Estimation in Measurement (AMUEM)

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ISBNs: 978-1-4244-3593-7 (impreso) 978-1-4244-3593-7 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2009 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías  


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Proceedings of the IEEE Workshop on Applications of Computer Vision: Proceedings of the IEEE Workshop on Applications of Computer Vision (WACV)

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ISBNs: 978-1-4244-5497-6 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2009 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias de la computación e información  


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Proceedings of the IEEE Workshop on Applications of Computer Vision: Proceedings of the IEEE Workshop on Applications of Computer Vision (WACV)

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ISBNs: 978-1-4244-9496-5 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  


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Proceedings of the IEEE Workshop on Applications of Computer Vision: Proceedings of the IEEE Workshop on Applications of Computer Vision (WACV)

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ISBNs: 978-1-4673-0233-3 (impreso) 978-1-4673-0232-6 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2012 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Proceedings of the IEEE Workshop on Applications of Computer Vision: Proceedings of the IEEE Workshop on Applications of Computer Vision (WACV)

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ISBNs: 978-1-4673-5053-2 (impreso) 978-1-4673-5052-5 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Proceedings of the IEEE Workshop on Applications of Computer Vision: Proceedings of the IEEE Workshop on Applications of Computer Vision (WACV)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2014 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias de la computación e información  


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Proceedings of the IEEE Workshop on Applications of Computer Vision: Proceedings of the IEEE Workshop on Applications of Computer Vision (WACV)

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ISBNs: 0-7695-2794-9 (impreso) 0-7695-2794-9 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática