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actas de congreso

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IEEE Asia-Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS)

ISBNs: 1-4244-0387-1 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2006	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

actas de congreso

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IEEE Asia-Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS)

ISBNs: 978-1-4244-2341-5 (impreso) 978-1-4244-2342-2 (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2008	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

actas de congreso

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IEEE Asia-Pacific Service Computing Conference

ISBNs: 0-7695-3051-6 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2007	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias de la computación e información

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IEEE Asia-Pacific Services Computing Conference (APSCC)

ISBNs: 978-0-7695-3473-2 (impreso) 978-0-7695-3473-2 (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2008	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias de la computación e información

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IEEE AUTOTESTCON: IEEE Systems Readiness Technology Conference (AUTOTESTCON)

ISBNs: 0-7803-8449-0 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2004	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE AUTOTESTCON: IEEE Systems Readiness Technology Conference (AUTOTESTCON)

ISBNs: 0-7803-9101-2 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2005	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE AUTOTESTCON: IEEE Systems Readiness Technology Conference (AUTOTESTCON)

ISBNs: 1-4244-0051-1 (impreso) 1-4244-0052-X (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2006	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE AUTOTESTCON: IEEE Systems Readiness Technology Conference (AUTOTESTCON)

ISBNs: 978-1-4244-1239-6 (impreso) 978-1-4244-1239-6 (en línea)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2007	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE AUTOTESTCON: IEEE Systems Readiness Technology Conference (AUTOTESTCON)

ISBNs: 978-1-4244-2225-8 (impreso) 978-1-4244-2226-5 (en línea)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2008	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE AUTOTESTCON: IEEE Systems Readiness Technology Conference (AUTOTESTCON)

ISBNs: 978-1-4244-4980-4 (impreso) 978-1-4244-4981-1 (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2009	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería mecánica

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