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2017 IEEE Microwaves, Radar and Remote Sensing Symposium (MRRS)

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ISBNs: 978-1-5090-5392-6 (impreso) 978-1-5090-5391-9 (en línea)

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Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería de los materiales - Ingenieria ambiental - Biotecnología médica  


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2017 IEEE MIT Undergraduate Research Technology Conference (URTC)

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ISBNs: 978-1-5386-2535-4 (impreso) 978-1-5386-2534-7 (en línea)

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No detectada 2017 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería y tecnología - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales - Biotecnología médica  


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2017 IEEE MTT-S International Conference on Microwaves for Intelligent Mobility (ICMIM)

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ISBNs: 978-1-5090-4355-2 (impreso) 978-1-5090-4354-5 (en línea)

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Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería de los materiales  


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2017 IEEE MTT-S International Conference on Numerical Electromagnetic and Multiphysics Modeling and Optimization for RF, Microwave, and Terahertz Applications (NEMO)

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ISBNs: 978-1-5090-4838-0 (impreso) 978-1-5090-4837-3 (en línea)

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Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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2017 IEEE MTT-S International Microwave and RF Conference (IMaRC)

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ISBNs: 978-1-5386-1321-4 (impreso) 978-1-5386-1320-7 (en línea)

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Cobertura temática: Ciencias físicas  


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2017 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS)

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ISBNs: 978-1-5090-6361-1 (impreso) 978-1-5090-6360-4 (en línea)

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Cobertura temática: Ciencias físicas  


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2017 IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series on Advanced Materials and Processes for RF and THz Applications (IMWS-AMP)

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ISBNs: 978-1-5386-0481-6 (impreso) 978-1-5386-0480-9 (en línea)

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Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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2017 IEEE National Aerospace and Electronics Conference (NAECON)

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ISBNs: 978-1-5386-3201-7 (impreso) 978-1-5386-3200-0 (en línea)

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Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería mecánica  


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2017 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS): NORCHIP and International Symposium of System-on-Chip (SoC)

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ISBNs: 978-1-5386-2845-4 (impreso) 978-1-5386-2844-7 (en línea)

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Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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2017 IEEE North Atlantic Test Workshop (NATW)

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ISBNs: 978-1-5090-5903-4 (impreso) 978-1-5090-5902-7 (en línea)

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