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actas de congreso
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IEEE Asia-Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS)

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ISBNs: 978-1-4244-2341-5 (impreso) 978-1-4244-2342-2 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2008 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

actas de congreso
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IEEE Asia-Pacific Service Computing Conference

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ISBNs: 0-7695-3051-6 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias de la computación e información  

actas de congreso
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IEEE Asia-Pacific Services Computing Conference (APSCC)

Más información

ISBNs: 978-0-7695-3473-2 (impreso) 978-0-7695-3473-2 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2008 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias de la computación e información  

revistas
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IEEE ASSP Magazine

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ISSNs 0740-7467 (impreso) 1558-1284 (en línea)

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Institución detectada Período Navegá Descargá Solicitá

Cobertura temática: Ingeniería y tecnología  

revistas
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IEEE Audio and Electroacoustics Newsletter

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ISSNs 2168-3069 (impreso) 2168-3050 (en línea)

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Institución detectada Período Navegá Descargá Solicitá

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

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IEEE AUTOTESTCON: IEEE Systems Readiness Technology Conference (AUTOTESTCON)

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ISBNs: 0-7803-8449-0 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2004 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

actas de congreso
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IEEE AUTOTESTCON: IEEE Systems Readiness Technology Conference (AUTOTESTCON)

Más información

ISBNs: 0-7803-9101-2 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2005 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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IEEE AUTOTESTCON: IEEE Systems Readiness Technology Conference (AUTOTESTCON)

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ISBNs: 1-4244-0051-1 (impreso) 1-4244-0052-X (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

actas de congreso
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IEEE AUTOTESTCON: IEEE Systems Readiness Technology Conference (AUTOTESTCON)

Más información

ISBNs: 978-1-4244-1239-6 (impreso) 978-1-4244-1239-6 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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IEEE AUTOTESTCON: IEEE Systems Readiness Technology Conference (AUTOTESTCON)

Más información

ISBNs: 978-1-4244-2225-8 (impreso) 978-1-4244-2226-5 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2008 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales