Catálogo de publicaciones

Compartir en
redes sociales


Navegación

Tipo

Acceso

Plataformas

Temática

Mostrando 10 de 12.056 registro(s)

Filtros plataforma quitar todos

actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 2004. Twentieth Annual IEEE

Más información

ISBNs: 0-7803-8363-X (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2004 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 2005 IEEE Twenty First Annual IEEE

Más información

ISBNs: 0-7803-8985-9 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2005 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 2006 IEEE Twenty-Second Annual IEEE

Más información

ISBNs: 1-4244-0153-4 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 2007. SEMI-THERM 2007. Twenty Third Annual IEEE

Más información

ISBNs: 1-4244-09589-4 (impreso) 1-4244-09589-4 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 2008. Semi-Therm 2008. Twenty-fourth Annual IEEE

Más información

ISBNs: 978-1-4244-2123-7 (impreso) 978-1-4244-2124-4 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2008 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 2009. SEMI-THERM 2009. 25th Annual IEEE

Más información

ISBNs: 978-1-4244-3664-4 (impreso) 978-1-4244-3665-1 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2009 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 2010. SEMI-THERM 2010. 26th Annual IEEE

Más información

ISBNs: 978-1-4244-9458-3 (impreso) 978-1-4244-9461-3 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2010 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

Seminar Wind Power to the Grid-EPE Wind Energy Chapter (EPE-WECS)

Más información

ISBNs: 978-9-0758-1512-2 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2008 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

Sensing Technology (ICST), 2011 Fifth International Conference on

Más información

ISBNs: 978-1-4577-0168-9 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

Sensing Technology (ICST), 2012 Sixth International Conference on

Más información

ISBNs: 978-1-4673-2246-1 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2012 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales