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Semiconductor Manufacturing (ISSM), 2008 International Symposium on

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978-4-9904138-2-8 (en línea)

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No detectada 2008 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Semiconductor Manufacturing (ISSM), 2010 International Symposium on

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ISBNs: 978-1-4577-0392-8 (impreso)

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No detectada 2010 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Semiconductor Manufacturing Technology Workshop Proceedings, 2004

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ISBNs: 0-7803-8469-5 (impreso)

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No detectada 2004 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Semiconductor Manufacturing, 2005. ISSM 2005, IEEE International Symposium on

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ISBNs: 0-7803-9143-8 (impreso)

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No detectada 2005 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Semiconductor Manufacturing, 2006. ISSM 2006. IEEE International Symposium on

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ISBNs: 978-4-9904138-0-4 (impreso)

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No detectada 2006 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Semiconductor Manufacturing, 2007. ISSM 2007. International Symposium on

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ISBNs: 978-1-4244-1142-9 (impreso) 978-1-4244-1142-9 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM), 2011 27th Annual IEEE

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ISBNs: 978-1-61284-740-5 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM), 2012 28th Annual IEEE

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ISBNs: 978-1-4673-1110-6 (impreso) 978-1-4673-1109-0 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2012 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM), 2013 29th Annual IEEE

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ISBNs: 978-1-4673-6427-0 (impreso) 978-1-4673-6428-7 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería química - Ingeniería de los materiales - Ingenieria ambiental  


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Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM), 2014 30th Annual

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No detectada 2014 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería de los materiales