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2015 IEEE 24th Asian Test Symposium (ATS)

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ISBNs: 978-1-4673-9740-7 (impreso) 978-1-4673-9739-1 (en línea)

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2015 IEEE 24th Electrical Performance of Electronic Packaging and Systems (EPEPS)

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ISBNs: 978-1-5090-0038-8 (impreso) 978-1-5090-0040-1 (en línea)

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Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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2015 IEEE 24th International Symposium on Industrial Electronics (ISIE)

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ISBNs: 978-1-4673-7555-9 (impreso) 978-1-4673-7554-2 (en línea)

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Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales - Biotecnología médica  


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2015 IEEE 24th North Atlantic Test Workshop

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ISBNs: 978-1-4673-7418-7 (impreso) 978-1-4673-7417-0 (en línea)

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Cobertura temática: Ingeniería y tecnología - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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2015 IEEE 26th Annual International Symposium on Personal, Indoor, and Mobile Radio Communications (PIMRC)

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ISBNs: 978-1-4673-6783-7 (impreso) 978-1-4673-6782-0 (en línea)

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Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería y tecnología - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería de los materiales  


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2015 IEEE 26th International Conference on Application-specific Systems, Architectures and Processors (ASAP)

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ISBNs: 978-1-4799-1926-0 (impreso) 978-1-4799-1925-3 (en línea)

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Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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2015 IEEE 26th Symposium on Fusion Engineering (SOFE)

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ISBNs: 978-1-4799-8265-3 (impreso) 978-1-4799-8264-6 (en línea)

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Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería y tecnología - Ingeniería mecánica - Ingeniería química - Ingeniería de los materiales  


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2015 IEEE 28th Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE)

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ISBNs: 978-1-4799-5827-6 (impreso) 978-1-4799-5829-0 (en línea)

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2015 IEEE 2nd World Forum on Internet of Things (WF-IoT)

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ISBNs: 978-1-5090-0367-9 (impreso) 978-1-5090-0366-2 (en línea)

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2015 IEEE 33rd VLSI Test Symposium (VTS)

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ISBNs: 978-1-4799-7598-3 (impreso) 978-1-4799-7597-6 (en línea)

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Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería de los materiales - Biotecnología médica