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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 978-1-4673-3043-5 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2012	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales - Ingenieria ambiental

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 978-1-4799-1583-5 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2013	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 978-1-4799-6154-2 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2014	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 978-1-4244-8447-8 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2010	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería de los materiales - Biotecnología médica

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 0-7695-2241-6 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2004	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 0-7695-2464-8 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2005	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 0-7695-2706-X (impreso)

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No detectada	2006	IEEE Xplore

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 978-0-7695-3839-6 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2009	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 978-0-7695-3365-0 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2008	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 978-0-7695-2885-4 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2007	IEEE Xplore

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

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